| 是否进口：否 | 加工定制：否 | 类型：薄膜测厚仪 |
| 品牌：AND/艾安得 | 型号：膜厚测量仪 | 测量范围：11mm |
膜厚测量仪是用来测量材料及物体厚度的仪表。在工业生产中常用来连续或抽样测量产品的厚度（如钢板、钢带、薄膜、纸张、金属箔片等材料）。
这类仪表中有利用α射线、β射线、γ射线穿透特性的放射性厚度计；有利用超声波频率变化的超声波厚度计；有利用涡流原理的电涡流厚度计；还有利用机械接触式测量原理的测厚仪等。
膜厚测量仪仪器规格及参数：
***管 油冷式超微细对焦点***管
靶材：钨（W）、铝（AL）、钼（MO）
管电压：0~50kv
管电流：0.1mA
照射方式 由上往下垂直照射方式
检测器 正比例计数管（PC）
仪器校正 密度校正，标准样品校正
检测滤片 Co片，Ni片可选
准直器 固定型或自动型
固定型：可选0.1，0.2，0.3，0.4，0.05x0.3mm
自动型：0.1，0.2，0.3，0.4，0.05x0.3mm
输入电压 AC220V
温度控制 前置放大及主机温度控制
工作温度 室温（22~25℃）
真空样品室
排气所需时间 没有
可测量元素范围 钛（Ti）—铀（U）
可测量厚度范围 原子序：22-25,0.1-0.8um 26-40,0.05-35um 43-52,0.05-100um 72-82,0.05-5um
测量时间 10~30s
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